PRICES include / exclude VAT
Homepage>CSN Standards>35 ELECTRICAL ENGINEERING>3587 Semiconductor elements>CSN EN 60749-11 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 11: Rapid change of temperature - Two-fluid-bath method
Sponsored link
Not available online - contact us!
Released: 01.04.2003
CSN EN 60749-11 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 11: Rapid change of temperature - Two-fluid-bath method

CSN EN 60749-11

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 11: Rapid change of temperature - Two-fluid-bath method

CURRENCY
33.33 USD
FREE Shipping
Number of Standard:CSN EN 60749-11
Category:358799
Pages:4
Released:01.04.2003
Catalog number:66848
DESCRIPTION

CSN EN 60749-11

CSN EN 60749-11 Tato část normy IEC 60749 definuje zkušební metodu rychlou změnou teploty a metodu dvou lázní. nízkého tlaku vzduchu na polovodičových součástkách. Jsou-li obě zkušební metody prováděny jako část kvalifikace součástek, pak výsledky teplotního cyklování vzduch-vzduch mají prioritu před touto zkouškou metodou dvou lázní. Tuto zkušební metodu je možno použít, při méně cyklech (např. 5 až 10 cyklů), ke zkoušení vlivu ponoření do ohřátých kapalin, které jsou používány k čištění součástek. Tato zkouška je vhodná pro všechny polovodičové součástky. Je považována za destruktivní, pokud není v příslušné specifikaci stanoveno jinak. Obecně je tato zkouška metodou rychlé změny teploty a metodou dvou lázní v souladu s IEC 60068-2-14, ale vzhledem ke specifickým požadavkům polovodičů, platí články této normy.
Original English text of CSN EN Standard.
The price of the Standard included all amendments and correcturs.