Don't have a credit card? Never mind we support BANK TRANSFER .

Log inSign up
LANGUAGE en
Menu
STOREHelp centerContactsDelivery chargesABOUT US News
SEARCH
0
Total price
0 EUR
PRICES include / exclude VAT
Homepage>CSN Standards>35 ELECTRICAL ENGINEERING>3587 Semiconductor elements>CSN EN 60749-23 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life
Released: 01.12.2004
CSN EN 60749-23 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life

CSN EN 60749-23

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life

Format
Availability
Price and currency
English Hardcopy
In stock
61.00 EUR
FREE Shipping
Number of Standard:CSN EN 60749-23
Category:358799
Pages:24
Released:01.12.2004
Catalog number:71680
DESCRIPTION

CSN EN 60749-23

CSN EN 60749-23 Tato zkouška se používá k určení vlivů podmínek předpětí a teploty na pevné součástky v čase. Zkouška simuluje pracovní podmínky součástky zrychleným způsobem a přednostně se používá pro kvalifikaci součástek a monitorování spolehlivosti. Forma předpětí při vyšší teplotě, které má krátké trvání, je obecně známá jako "zahořování" a může být použita k vytřídění poruch, které se vztahují k časné úmrtnosti. Podrobné využití a aplikace zahořování je mimo předmět této normy.
Original English text of CSN EN Standard.
The price of the Standard included all amendments and correcturs.
Print