Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 37: Board level drop test method using an accelerometer
Format
Availability
Price and currency
English Hardcopy
In stock
69.00 EUR
FREE Shipping
Number of Standard:
CSN EN 60749-37
Category:
358799
Pages:
28
Released:
01.09.2008
Catalog number:
81899
DESCRIPTION
CSN EN 60749-37
CSN EN 60749-37 Část 37 souboru norem IEC 60749 popisuje zkušební metodu pro hodnocení a porovnání chování povrchově montovaných elektronických součástek pro ruční elektronické výrobky při působení zrychleného zkušebního prostředí, kdy nadměrný ohyb desky s plošnými spoji vyvolá poruchu výrobku. Popsaná metoda používá měřič zrychlení pro sledování mechanického úderu, který odpovídá namáhání součástky na osazené desce Zkouška je vhodná pro součástky s vývody uspořádanými do matice, nebo pouze po obvodu. Original English text of CSN EN Standard. The price of the Standard included all amendments and correcturs.
