Log inSign up
LANGUAGE en
Menu
STOREE-ReadingHelp centerContactsDelivery chargesABOUT US News
SEARCH
0
Total price
0 EUR
PRICES include / exclude VAT
Homepage>CSN Standards>35 ELECTRICAL ENGINEERING>3587 Semiconductor elements>CSN EN 60749-7 ed. 2 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 7: Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases
Sponsored link
Released: 01.02.2012
CSN EN 60749-7 ed. 2 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 7: Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases

CSN EN 60749-7 ed. 2

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 7: Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases

Format
Availability
Price and currency
English Hardcopy
In stock
52.00 EUR
FREE Shipping
Number of Standard:CSN EN 60749-7 ed. 2
Category:358799
Pages:20
Released:01.02.2012
Catalog number:89982
DESCRIPTION

CSN EN 60749-7 ed. 2

CSN EN 60749-7 ed. 2 Tato norma definuje zkoušení a měření obsahu vodní páry a dalších plynů uvnitř kovové, nebo keramické hermeticky uzavřené součástky. Zkouška se používá na měření kvality pouzdření a poskytuje informaci o dlouhodobé chemické stabilitě atmosféry uvnitř pouzdra. Je použitelná pro takto pouzdřené polovodičové součástky, ale používá se převážně pro aplikace, kde se požaduje vysoká spolehlivost jako je vojenská technika, nebo letectví. Tato zkouška je destruktivní.
Original English text of CSN EN Standard.
The price of the Standard included all amendments and correcturs.
Print