PRICES include / exclude VAT
Homepage>CSN Standards>35 ELECTRICAL ENGINEERING>3587 Semiconductor elements>CSN EN 60749-9 ed. 2 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 9: Permanence of marking
Sponsored link
Released: 01.10.2017
CSN EN 60749-9 ed. 2 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 9: Permanence of marking

CSN EN 60749-9 ed. 2

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 9: Permanence of marking

Format
Availability
Price and currency
English Hardcopy
In stock
52.00 EUR
FREE Shipping
Number of Standard:CSN EN 60749-9 ed. 2
Category:358799
Pages:20
Released:01.10.2017
Catalog number:503478
DESCRIPTION

CSN EN 60749-9 ed. 2

CSN EN 60749-9 ed. 2 Účelem této normy je určit, zda se značení na polovodičových součástkách nestane nečitelné, pokud jsou podrobeny nalepení a odstranění štítků nebo jsou ponořeny do rozpouštědel nebo čisticích roztoků obecně používaných v montážním procesu při odstraňování zbytků pájecí pasty z desky s plošnými spoji. Tato zkouška je použitelná pro všechny typy pouzder. Je vhodná pro použití při kvalifikační zkoušce a/nebo v monitorovaní procesu zkoušením. Zkoušku je možno považovat za nedestruktivní. Pro účely této zkoušky je možno použít elektrické nebo mechanické zmetky. Tento postup neplatí pro pouzdra se značením vypáleným laserem. Mnoho vhodných rozpouštědel, která by mohla být použita, je buď nedostatečně aktivních, příliš lepivých, nebo dokonce nebezpečných, v případě, že dojde k přímému kontaktu s lidmi, nebo ke vdechování výparů.
Original English text of CSN EN Standard.
The price of the Standard included all amendments and correcturs.