Electromagnetic compatibility (EMC) - Part 4-20: Testing and measurement techniques - Emission and immunity testing in transverse electromagnetic (TEM) waveguides
CURRENCY
FREE Shipping
Number of Standard:
CSN EN 61000-4-20 ed. 2
Category:
333432
Pages:
88
Released:
01.06.2011
Catalog number:
88384
DESCRIPTION
CSN EN 61000-4-20 ed. 2
CSN EN 61000-4-20 ed. 2 Tato část souboru norem se vztahuje ke zkušebním metodám emise a odolnosti pro elektrická a elektronická zařízení. Tyto zkušební metody používají různé typy vlnovodů s příčným elektromagnetickým polem (TEM). Tyto typy zahrnují otevřené struktury (například pásková vedení a simulátory elektromagnetických impulzů) a uzavřené struktury (například buňky TEM). Tyto struktury mohou být dále klasifikovány jako jedno, dvou a víceportové vlnovody TEM. Kmitočtový rozsah závisí na určitých zkušebních požadavcích a na určitém typu vlnovodu TEM. Norma nemá záměr určit, jaká zkouška bude použita na konkrétní zařízení nebo systém. Záměrem této normy je poskytnout základní všeobecné odkazy pro komise výrobku v IEC. Norma popisuje zkušební metody, které jsou odlišné od zkušebních metod popsaných v CSN EN 61000-4-3. Original English text of CSN EN Standard. The price of the Standard included all amendments and correcturs.