PRICES include / exclude VAT
Homepage>CSN Standards>35 ELECTRICAL ENGINEERING>3587 Semiconductor elements>CSN EN 62215-3 - Integrated circuits - Measurement of impulse immunity - Part 3: Non-synchronous transient injection method
Sponsored link
Released: 01.04.2014
CSN EN 62215-3 - Integrated circuits - Measurement of impulse immunity - Part 3: Non-synchronous transient injection method

CSN EN 62215-3

Integrated circuits - Measurement of impulse immunity - Part 3: Non-synchronous transient injection method

Format
Availability
Price and currency
English Hardcopy
In stock
84.00 EUR
FREE Shipping
Number of Standard:CSN EN 62215-3
Category:358792
Pages:44
Released:01.04.2014
Catalog number:95057
DESCRIPTION

CSN EN 62215-3

CSN EN 62215-3 Tato norma definuje metody pro měření odolnosti integrovaných obvodů (IC) za působení normalizovaných elektrických přechodových rušení. Rušení, které nemusí být nezbytně synchronizována s provozními podmínkami zkoušené součástky (DUT) jsou aplikována na vývody IC prostřednictvím připojené elektrické sítě. Tato metoda umožňuje porozumět a členit vzájemné působení mezi přechodovým rušením a jím vyvolaným výkonovým zničením integrovaných obvodů při definovaném napěťovém rozsahu, nebo za jeho hranicí.
Original English text of CSN EN Standard.
The price of the Standard included all amendments and correcturs.