Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET)
Format
Availability
Price and currency
English Hardcopy
In stock
69.00 EUR
FREE Shipping
Number of Standard:
CSN EN 62373
Category:
358767
Pages:
32
Released:
01.03.2007
Catalog number:
78056
DESCRIPTION
CSN EN 62373
CSN EN 62373 Tato norma uvádí zkušební postupy pro zkoušení stability tranzistorů řízených polem (MOSFET) při kombinovaném namáhání napětím a teplotou. Při dlouhodobém namáhání zvýšenou teplotou a napětím G-S dochází k degradaci MOSFET, klesá saturační proud a vzrůstá absolutní hodnota prahového napětí. Zaváděná IEC 62373 představuje celkem 27 stran anglického a francouzského textu. Original English text of CSN EN Standard. The price of the Standard included all amendments and correcturs.
