PRICES include / exclude VAT
Homepage>CSN Standards>35 ELECTRICAL ENGINEERING>3587 Semiconductor elements>CSN EN IEC 60749-10 ed. 2 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 10: Mechanical shock - Device and subassembly
Sponsored link
Released: 01.01.2023
CSN EN IEC 60749-10 ed. 2 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 10: Mechanical shock - Device and subassembly

CSN EN IEC 60749-10 ed. 2

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 10: Mechanical shock - Device and subassembly

Format
Availability
Price and currency
English Hardcopy
In stock
61.00 EUR
FREE Shipping
Number of Standard:CSN EN IEC 60749-10 ed. 2
Category:358799
Pages:24
Released:01.01.2023
Catalog number:515546
DESCRIPTION

CSN EN IEC 60749-10 ed. 2

CSN EN IEC 60749-10 ed. 2 Tato norma je určena k hodnocení součástek ve volném stavu a namontovaných na deskách s plošnými spoji pro použití v elektrických zařízeních. Metoda slouží k určení kompatibility součástek a podsestav, aby odolaly středně silným rázům. Použití podsestav je prostředkem ke zkoušení součástek v podmínkách použití tak, jak jsou osazeny na deskách s plošnými spoji. Mechanické rázy způsobené náhle působícími silami nebo náhlými změnami pohybu, které jsou způsobené manipulací, přepravou nebo provozem v terénu mohou narušit provozní vlastnosti, zejména, pokud se rázové pulsy opakují. Jedná se o destruktivní zkoušku určenou pro kvalifikaci součástek.
Original English text of CSN EN Standard.
The price of the Standard included all amendments and correcturs.