PRICES include / exclude VAT
Homepage>CSN Standards>35 ELECTRICAL ENGINEERING>3587 Semiconductor elements>CSN EN IEC 60749-26 ed. 3 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM)
Sponsored link
Released: 01.08.2018
CSN EN IEC 60749-26 ed. 3 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM)

CSN EN IEC 60749-26 ed. 3

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM)

Format
Availability
Price and currency
English Hardcopy
In stock
98.00 EUR
FREE Shipping
Number of Standard:CSN EN IEC 60749-26 ed. 3
Category:358799
Pages:64
Released:01.08.2018
Catalog number:505679
DESCRIPTION

CSN EN IEC 60749-26 ed. 3

CSN EN IEC 60749-26 ed. 3 Tato norma určuje postup pro zkoušení, vyhodnocování a třídění součástí a mikroobvodů podle jejich náchylnosti (citlivosti) k poškození nebo degradaci vlivem působení elektrostatického výboje (ESD), který je definován modelem lidského těla HBM. Účelem této normy je určit takové zkušební metody, které budou opakovaně vyvolávat poruchy způsobené HBM a poskytovat spolehlivé a opakovatelné HBM ESD výsledky zkoušek pro všechny zkoušeče bez ohledu na typ součásti. Data získaná opakovatelným měřením umožní přesnou klasifikaci HBM ESD podle úrovní citlivosti. ESD zkoušení polovodičových součástek je vybráno ze zkušební metody strojovým modelem (MM), která je uvedena v IEC 60749-27, ostatní ESD zkoušky jsou vybrány z dalších norem souboru IEC 60749. Pokud není uvedeno jinak, je popisovaná zkušební metoda jednou z možných.
Original English text of CSN EN Standard.
The price of the Standard included all amendments and correcturs.