PRICES include / exclude VAT
Homepage>CSN Standards>35 ELECTRICAL ENGINEERING>3587 Semiconductor elements>CSN EN IEC 61967-1 ed. 2 - Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions - Part 1: General conditions and definitions
Sponsored link
Released: 01.07.2019
CSN EN IEC 61967-1 ed. 2 - Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions - Part 1: General conditions and definitions

CSN EN IEC 61967-1 ed. 2

Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions - Part 1: General conditions and definitions

Format
Availability
Price and currency
English Hardcopy
In stock
84.00 EUR
FREE Shipping
Number of Standard:CSN EN IEC 61967-1 ed. 2
Category:358798
Pages:40
Released:01.07.2019
Catalog number:507992
DESCRIPTION

CSN EN IEC 61967-1 ed. 2

CSN EN IEC 61967-1 ed. 2 Tato norma stanovuje obecné informace a definice pro měření elektromagnetického rušení šířeného vedením a vyzařovaného elektromagnetického rušení z integrovaných obvodů. Stanovuje také měřicí podmínky, zkušební zařízení, nastavení, stejně jako zkušební postupy a obsah zkušebních zpráv. Příloha A pomáhá při výběru vhodné zkušební metody (metod). Předmětem této normy je stanovit obecné podmínky pro případ stanovení jednotného zkušebního prostředí a získat kvantitativní opatření proti RF rušení, které produkuje integrovaný obvod (IC). Stanovuje kritické parametry, které mají vliv na zkušební výsledky. Odchylky od této normy jsou uvedeny v individuální zkušební zprávě. Výsledky měření mohou být použity pro srovnání, nebo další účely. Měření napětí a proudu, které doprovází RF emise šířené vedením nebo vyzářené RF rušení, které vychází z integrovaného obvodu za řízených podmínek, poskytuje informaci o možných RF rušeních při aplikaci integrovaného obvodu. V každé části IEC 61967 je uveden vhodný kmitočtový rozsah.
Original English text of CSN EN Standard.
The price of the Standard included all amendments and correcturs.