Log inSign up
LANGUAGE en
Menu
STOREE-ReadingHelp centerContactsDelivery chargesABOUT US News
SEARCH
0
Total price
0 EUR
PRICES include / exclude VAT
Homepage>CSN Standards>35 ELECTRICAL ENGINEERING>3587 Semiconductor elements>CSN EN IEC 61967-4 ed. 2 - Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions - Part 4: Measurement of conducted emissions - 1 Ů/150 Ů direct coupling method
Sponsored link
Released: 01.10.2021
CSN EN IEC 61967-4 ed. 2 - Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions - Part 4: Measurement of conducted emissions - 1 Ů/150 Ů direct coupling method

CSN EN IEC 61967-4 ed. 2

Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions - Part 4: Measurement of conducted emissions - 1 Ů/150 Ů direct coupling method

Format
Availability
Price and currency
English Hardcopy
In stock
92.00 EUR
FREE Shipping
Number of Standard:CSN EN IEC 61967-4 ed. 2
Category:358798
Pages:52
Released:01.10.2021
Catalog number:513338
DESCRIPTION

CSN EN IEC 61967-4 ed. 2

CSN EN IEC 61967-4 ed. 2 Tato norma specifikuje metodu, jak měřit emisi šířenou vedením (EME) integrovaných obvodů přímým měřením vysokofrekvenčního proudu pomocí 1 Ohm odporové sondy a měřením vysokofrekvenčního napětí pomocí 150 Ohm vazební sítě. Tyto metody zajišťují vysoký stupeň opakovatelnosti a vzájemný vztah naměřených výsledků EME.
Original English text of CSN EN Standard.
The price of the Standard included all amendments and correcturs.
Print