Homepage>DIN Standards>DIN EN IEC 62496-2-5 Optische Leiterplatten - Grundlegende Prüf- und Messverfahren - Teil 2-5: Biegsamkeitstest für biegsame opto-elektrische Schaltkreise (IEC 62496-2-5:2022); Deutsche Fassung EN IEC 62496-2-5:2023
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DIN EN IEC 62496-2-5
Optische Leiterplatten - Grundlegende Prüf- und Messverfahren - Teil 2-5: Biegsamkeitstest für biegsame opto-elektrische Schaltkreise (IEC 62496-2-5:2022); Deutsche Fassung EN IEC 62496-2-5:2023
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2024-04
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DIN EN IEC 62496-2-5
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German
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Optische Leiterplatten - Grundlegende Prüf- und Messverfahren - Teil 2-5: Biegsamkeitstest für biegsame opto-elektrische Schaltkreise (IEC 62496-2-5:2022); Deutsche Fassung EN IEC 62496-2-5:2023
