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in stockReleased: 2017-10-01
UNE EN 60749-43:2017
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 43: Guidelines for IC reliability qualification plans (Endorsed by Asociación Española de Normalización in October of 2017.)
Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 43: Directrices para los planes de cualificación de fiabilidad de circuitos integrados (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en octubre de 2017.)
CURRENCY
| Standard number: | UNE EN 60749-43:2017 |
| Pages: | 46 |
| Released: | 2017-10-01 |
| Status: | Standard |
DESCRIPTION
This standard UNE EN 60749-43:2017 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 43: Guidelines for IC reliability qualification plans (Endorsed by Asociación Española de Normalización in October of 2017.) is classified in these ICS categories:
- 31.080.01